測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:11-12 2024 來自:祥宇精密
光柵計數尺的誤差
首先,光柵計數尺是二次元影像儀的核心部件之一,它的精度直接影響到整個測量系統的精度。光柵計數尺的誤差主要來源于其制造過程中的不完美,以及使用過程中的磨損和老化。這些因素都會導致光柵計數尺的實際讀數與其理論值之間存在一定的偏差。
其次,工作臺的移動精度也是影響測量結果的重要因素。理想情況下,工作臺應該沿著一條完全直線的路徑移動,但實際上,由于機械結構的不完美,工作臺在移動過程中可能會出現直線度和角擺度的問題。這些問題會導致工作臺的實際移動路徑與其理論路徑之間存在偏差,從而影響測量結果。
再者,工作臺的兩個測量軸之間的垂直度也是一個重要的誤差來源。如果兩個測量軸之間不完全垂直,那么在進行測量時,測量結果就會出現偏差。這種情況在實際使用中并不少見,因此需要定期檢查和校準。
顯微鏡光軸與工作臺面的不垂直也會導致測量誤差。理想情況下,顯微鏡的光軸應該與工作臺面完全垂直,但在實際使用中,由于機械結構的不完美和使用過程中的磨損,顯微鏡的光軸可能會出現輕微的傾斜。這種傾斜會導致測量結果的偏差,特別是在進行高精度測量時,這種偏差可能會變得非常明顯。
溫度變化是另一個重要的誤差來源。大多數二次元影像儀在設計時都會假設測量是在一個恒定的溫度下進行的,但實際上,測量室的溫度可能會有所波動。這些溫度波動會導致材料的膨脹和收縮,從而影響測量精度。因此,為了保證測量結果的準確性,通常需要在測量前對測量室進行溫度校準。
光源照明條件的變化也會影響測量結果。理想的光源應該能夠提供均勻、穩定的照明,但在實際使用中,光源的亮度可能會有所波動,這會影響到被測工件的照明效果和影像質量。此外,光源的位置和角度也可能會影響測量結果,因此需要定期檢查和調整。
攝像機是二次元影像儀的另一個核心部件,它負責捕捉被測工件的影像。攝像機產生的誤差主要包括光學誤差、機械誤差和電學誤差等。這些誤差會直接影響測量系統的精度,因此需要定期校準和維護。
在檢測過程中,固定圖像噪音也會影響測量結果。這些噪音可能是由攝像機本身、光源、機械振動等多種因素引起的。雖然這些噪音可以通過一定的技術手段進行分離和清除,但它們仍然會對測量結果產生一定的影響。
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